专利名称：有多用途存储器的测试器系统专利类型：发明专利
发明人：杰米·S.·库仑,博奈尔·G.·韦斯特申请号：CN03810443.1申请日：20030508公开号：CN1653346A公开日：20050810
摘要：一种用于测试集成电路(70)的设备(10)，该设备包括：有输出通道(50)的序列控制逻辑单元(20)，输出通道(50)可连接到被测器件(70)；和至少存储两种类型数据组(60b，60c，...)的存储器(60)，序列控制逻辑单元(20)利用每个数据组以确定输出通道上输出的测试模式。
申请人：尼佩泰斯特公司
地址：美国加利福尼亚
国籍：US
代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：蒋世迅
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